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    X射線鍍層測厚儀

    更新時間:2021-11-10

    簡要描述:

    X射線鍍層測厚儀主要通過X射線照射在樣品上,從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

      XRF-2020X射線鍍層測厚儀
      原產地:韓國
      品牌:Micropioneer微先鋒
      型號:XRF-2020

      X射線鍍層測厚儀原理及應用
      X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

      適應于各類五金電鍍,電子連接器端子等。
      可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。
      應用廣泛,適應電鍍生產企業,產品來料檢測等。

      儀器特點:
      全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
      多功能、高精度、使用方便快捷。測量時間只需10秒;
      可測0.03um-35um,精度可達正負5%以內適用范圍廣、操作簡便。

      功能及應用:
      檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚
      可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。
      單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
      雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
      多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層:
      鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

      測量精度:
      表層:±5%以內,第二層:±10%以內,第三層:±15%以內

      型號規格
      L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
      H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg
      規格型號如下圖

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